• +48 32 205 41 10
  • Bezpłatna dostawa od 500 zł
(Niezalogowany)
X Logowanie do sklepu hhw.pl
X
Szybkie zamówienie
  • Numer artykułu (8 cyfr)
  • Ilość
Języki X Polski

Mobile roughness measuring device Waveline W10 measuring range max. 320 µ

Mobile roughness measuring device Waveline W10 measuring range max. 320 µ
Bild Bild Bild

HOMMEL ETAMIC

Nr artykułu: 1033925 101 

Cena internetowa:
Pod zamówienie
Dodaj do ulubionych
Min. Ilość zamówienia: 1
Dodaj do koszyka
Opis
Zastosowanie
Compact, mobile roughness measuring device for standardised roughness measurement in production and in measuring rooms.

Wersja
  • Charging cradle for feed unit in base unit for continuous availability and secure storage with integrated printer for immediate documentation
  • Intuitive operation via large, colour touchscreen
  • Roughness probe can be replaced easily
  • Immediate inspection of measuring device using built-in roughness standard with reliable measurement allocation
  • Memory holds seven measuring programs with measuring conditions
  • At-a-glance tolerance assessment for immediate evaluation of measurement results
  • USB interface with Windows-compatible data format
  • Wireless data transfer via Bluetooth® interface
  • Precise workpiece support, even for small shafts
  • Probe can be swivelled 90° for measurements on deep surfaces, in grooves, in recesses or between collars

Zaleta
  • With optional Evovis software, supports the "latest" roughness standard ISO 21920
  • Measures in all positions, even on vertical surfaces or overhead
  • 40 measurable characteristic variables
  • Transverse probing of surfaces without changing equipment

Dostawa
1x Waveline W10 base unit
1x wireless feed unit with axial and transverse probing
2x roughness probes T1E (2 µm/90°) with measuring range +/- 100 µm
2x rolls of printer paper
Roughness standard
Illuminated probe guard
Mains adapter
Factory calibration certificate
Operating instructions
Storage case

Wskazówki
For thermal printer, see art. no. 1033903 101.
For Evovis software, see art. no. 1033910 201-202.
To enlarge the measuring range to +/- 300 µm please use the corresponding probe art. no. 1033903 108

Dane techniczne

Marka: HOMMEL ETAMIC
Typ: Waveline W10
System czujników pomiarowych: Czujniki ślizgaczowe
Min./maks. ścieżka skanowania: 1.5-17.5 mm
Długość drogi skanowania chropowatości powierzchni: 4,8 mm | 1,5 mm | 17,5 mm
Szybkość odczytu chropowatość powierzchni: 1 mm/s | 0,5 mm/s | 0,1 mm/s
Parametry: Ra | Rz | Rmax | Rt | Rpc | Rsm | Rc | Rp | Rpm (ASME) | Rv | Rmr | Rq | R3z | Rz (JIS) | Rdc | Rsk | Rdq | Pa | Pz | Pt | MR1 | MR2 | A1 | A2 | Rk | Rpk | Rvk | V0 | VO | R | Ar | CR | CL | Rx | NR (MOTIF) | CF
Odcinki elementarne: 0,25 mm | 0,8 mm | 2,5 mm
Pamięć profili pomiarowych (liczba profili): 5 szt
Pamięć profili pomiarowych (liczba pojedynczych odczytów): 10000 szt
Typ transmisji danych: Kabel | Bluetooth

Dalsze szczegóły

Hersteller-Teilenummer:
10065263

Ergänzende Artikel

Bitte wählen Sie einen Button aus.

Hasła:

Strona Hommel Hercules (hhw.pl) stosuje pliki cookie, aby zapewnić najlepszą możliwą obsługę. Korzystając z naszych usług, wyrażasz zgodę na używanie ciasteczek (cookies) oraz zgadzasz się z naszą Polityką prywatności.